3. ЭВРИСТИЧЕСКОЕ ТЕСТИРОВАНИЕ ТИПОВЫХ УЗЛОВ

И УСТРОЙСТВ ПО ИЗВЕСТНОЙ ФУНКЦИИ

В разделе рассматриваются:

1. Тесты типовых узлов (триггера, сумматора, мультиплексора, компаратора).

2. Тестирование оперативных запоминающих устройств (ОЗУ).

3. Тестирование микропроцессоров и микропроцессорных систем.

На практике часто встречаются ситуации, когда принципиальная схема объекта диагностирования неизвестна либо применение точных детерминированных методов синтеза тестов не оправданно по временным либо экономическим соображениям. Тогда объект диагностирования рассматривается как черный ящик, реализуемая функция которого известна. Если реализовать исчерпывающий тест функции не представляется возможным, то в этом случае можно ограничиться серией отдельных функциональных проверок. Такой проверяющий тест в некоторой степени будет характеризовать работоспособность объекта диагностирования. Очевидно, что полнота теста будет не определена. Понятие функционального теста не является математически строгим и базируется на позитивном использовании имеющихся данных об объекте. Наиболее очевидными являются функциональные тесты для типовых узлов, функции которых известны.

Например, не представляет труда предложить функциональный тест четырехразрядного сумматора, который проверяет, как минимум, константные неисправности на входах и выходах сумматора, а также цепь переноса:

Функциональный тест мультиплексора 4®1 должен проверять прохождение 0 и 1 с информационных входов a_i на выход f, при соответствующем коде настройки U₀, U₁:

Функциональный тест триггеров вне зависимости от типа триггера должен проверить возможность записи информации (0 и 1) и хранение информации (0 и 1).

Функциональный тест ПЗУ заключается в считывании данных по всем адресам и сравнении их с эталоном.